Publizoom

KLA Corporation

Deze concurrent volgen Maak een gratis account aan om verwittigd te worden wanneer hij een opdracht binnenhaalt.

Binnengehaalde opdrachten
13
Bedrag alleen binnengehaald
€ 619.929 excl. btw
Periode
30 september 2025 – 5 oktober 2026

Belangrijkste klanten

Waar en wat

Leveringen · 13

Vlaams-Brabant · 8

Contracten die binnenkort aflopen

Evenveel kansen om deze opdrachten over te nemen bij de nieuwe aanbesteding.

Voorzien eindeContractHuidige opdrachtnemerBedrag
20 februari 2027
nieuwe aanbesteding rond oktober 2026
Duitsland – Diverse machines voor specifieke doeleinden – HF-Gas Phase Etching Tool - PR1209440-2480-W
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
KLA Corporation
2 offertes ontvangen
–
18 augustus 2027
nieuwe aanbesteding rond februari 2027
Frankrijk – Micro-elektronische machines en toestellen – Fourniture d'un équipement de gravure profonde
CEA Grenoble
KLA CORPORATION
2 offertes ontvangen
€ 1

Binnengehaalde opdrachten

DatumOpdrachtAankoperBedrag
05/10/2026 Frankrijk – Micro-elektronische machines en toestellen – Acquisition d’un upgrade C2L sas multipositions CNRS Délégation Régionale Hauts-de-France € 619.928
02/10/2026 Micro scale sheet resistance prober Imec EU Pilot line NV –
07/09/2026 Frankrijk – Micro-elektronische machines en toestellen – Fourniture d'un équipement de gravure profonde CEA Grenoble € 1
03/08/2026 Duitsland – Diverse machines voor specifieke doeleinden – Defect Inspection Tool (IPMS-MRS04.1) - PR948311-2480-P Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 –
22/07/2026 Duitsland – Diverse machines voor specifieke doeleinden – HF-Gas Phase Etching Tool - PR1209440-2480-W Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 –
20/07/2026 Duitsland – Diverse machines voor specifieke doeleinden – DRIE etch cluster (Mainframe + 3 Chambers) (IPMS-MRS07.1; IPMS-MRS07.2; IPMS-MRS08.1; IPMS-MRS08.2) - PR882587-2480-P Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 –
31/03/2026 Defect Inspection for Die Monitoring Tool Imec EU Pilot line NV –
03/03/2026 Wafer Shape Metrology Tool Imec EU Pilot line NV –
03/03/2026 Unpatterned Wafer Inspection Tool Upgrade Imec EU Pilot line NV –
03/03/2026 Thickness Metrology Tool Imec EU Pilot line NV –
02/02/2026 Blanco Wafer Inspectietoestel Imec EU Pilot line NV –
02/02/2026 Overlay Metrology Tool Imec EU Pilot line NV –
30/09/2025 Brightfield inspection tool Imec EU Pilot line NV –

Bron: gunningsaankondigingen gepubliceerd op TED (Publicatiebureau van de Europese Unie), boven de Europese drempels. Opdrachten die alleen in België gepubliceerd worden, staan er nog niet in.