Award notice Supplies Italian
fornitura di una piattaforma integrata di microscopia correlativa comprendente sistema FIB/SEM (Focused Ion BeamScanning Electron Microscope), microscopia ottica avanzata e software unificato di gestione e analisi dati, da installarsi presso il locale 2i35 delledificio U3-BIOS dellUniversità degli Studi di Milano - Bicocca
Area Approvvigionamenti Beni e Servizi - Settore Gare Beni e Servizi: Ufficio Gare, Ufficio Procedure Negoziate · MILANO (MI), Italy
Awarded €989,990 Published on 13 October 2026